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試驗(yàn)箱是配合電子萬能試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行力學(xué)性能試驗(yàn)用裝置，能夠?qū)崿F(xiàn)低溫環(huán)境或高溫環(huán)境相應(yīng)溫度下的環(huán)境模擬試驗(yàn)。試驗(yàn)箱采用導(dǎo)軌安裝，可按需移動滿足高低溫環(huán)境和室溫環(huán)境下的試驗(yàn)要求，帶可視窗前開式密封裝置，既保證使用的便利性，又做到對測量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確。由箱體、高溫加熱系統(tǒng)、溫度控制器、引伸桿、移動支架、水冷系統(tǒng)、壓縮機(jī)制冷等組成。

1、GB2423.22－2002 試驗(yàn) N 溫度變化試驗(yàn)方法；

2、GJB150.3A－2009 高溫試驗(yàn)方法；

3、GJB150.4A－2009 低溫試驗(yàn)方法；

4、GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)

低溫；

5、GBT 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)

高溫：

6、GBT 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。